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[1]杨 电,陈 韬,阙凌薇.一种半导体激光器老化及测试系统[J].工业仪表与自动化装置,2021,(01):51-54.[doi:1000-0682(2021)01-0000-00]
 YANG Dian,CHEN Tao,QUE Lingwei.A semiconductor laser aging and testing system[J].Industrial Instrumentation & Automation,2021,(01):51-54.[doi:1000-0682(2021)01-0000-00]
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一种半导体激光器老化及测试系统

《工业仪表与自动化装置》[ISSN:1000-0682/CN:61-1121/TH]

卷:
期数:
2021年01期
页码:
51-54
栏目:
出版日期:
2021-02-15

文章信息/Info

Title:
A semiconductor laser aging and testing system
作者:
杨 电陈 韬阙凌薇
武汉光迅科技股份有限公司,湖北 武汉 430205
Author(s):
YANG DianCHEN TaoQUE Lingwei
Accelink Technology Co. Ltd. ,Hubei Wuhan 430205, China
关键词:
半导体激光器老化寿命测试
Keywords:
semiconductor laser aging life test
分类号:
TN248.4
DOI:
1000-0682(2021)01-0000-00
文献标志码:
A
摘要:
该文介绍了一种半导体激光器自动老化系统,对该系统的硬件及软件进行了研究及方案设计,并据此研制一种半导体激光器自动老化系统。该系统通过采集恒流工作半导体激光器的背光电流随时间变化的信息及所处环境的温度, 绘制半导体激光器的老化曲线,满足了半导体激光器老化及测试工程上的应用。
Abstract:
This paper introduces an automatic aging system for semiconductor lasers.The hardware and software of the system are studied and designed.Based on this, an automatic aging system of semiconductor laser is developed the system draws the aging curve of semiconductor laser by collecting the information of monitor current changing with time,through practical application, it can meet the requirements of laser diode aging and test engineering.

参考文献/References:

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备注/Memo

备注/Memo:
收稿日期:2020-07-06
作者简介:
杨电(1983),男,湖北人,硕士,研究方向为半导体器件可靠性。
更新日期/Last Update: 1900-01-01