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[1]郭晓光,钱宏文,李星辉,等.航空机载智能接触器自动测试平台设计[J].工业仪表与自动化装置,2023,(05):12-15+20.[doi:10.19950/j.cnki.cn61-1121/th.2023.05.003]
　GUO Xiaoguang,QIAN Hongwen,LI Xinghui,et al.The automatic test platform design for smart contactors in the aviation system[J].Industrial Instrumentation & Automation,2023,(05):12-15+20.[doi:10.19950/j.cnki.cn61-1121/th.2023.05.003]
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航空机载智能接触器自动测试平台设计

《工业仪表与自动化装置》[ISSN:1000-0682/CN:61-1121/TH]

卷:
期数:
2023年05期
页码:
12-15+20
栏目:
出版日期:
2023-10-15

文章信息/Info

Title:
The automatic test platform design for smart contactors in the aviation system
文章编号:
1000-0682（2023）05-0012-04
作者:
郭晓光; 钱宏文; 李星辉; 倪文龙
1.中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏 无锡 214035；
2.西安羚控电子科技有限公司，陕西 西安 710000
Author(s):
GUO Xiaoguang; QIAN Hongwen; LI Xinghui; NI Wenlong
1.China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Jiangsu Wuxi 214035, China；
2.Xi’an Lingkong Electronic Technology Co,Ltd.,Shaanxi Xi’an 710000, China?/div>
关键词:
自动化测试; DSP+ARM; 国产化; IAP升级; LabVIEW
Keywords:
automation test;  DSP+ARM;  localization;  IAP upgrade;  LabVIEW
分类号:
V242.5
DOI:
10.19950/j.cnki.cn61-1121/th.2023.05.003
文献标志码:
A
摘要:
该文提出一种用于航空机载智能接触器系统的通用自动测试平台设计方法。系统上位机使用LabVIEW软件，完成对总线协议的解码分析与功能验证工作；平台系统主要通过上位机将需要测试的指令通过RS485接口发送到自动测试平台以后，经过下位机测试平台ARM进行协议解析，根据解析内容完成相关接口功能的测试工作，并将结果自动反馈到上位机进行自动判别处理，系统可同时批量验证十套产品验证工作。另外，该自动测试平台还具备对产品的IAP升级功能，只需要外接CAN接口即可完成，可以极大的增加测试系统设计的灵活性和实用，该方法简单、便捷和可靠，具有极大的使用价值。
Abstract:
This article proposes the design method of automatic test platforms that can provide testing in the aviation system. The system upper machine software is developed using LabVIEW, which completes the decoding analysis and functional verification of the system bus protocol; the system mainly uses the instructions to test the instructions to be tested through the RS485 interface to the automatic test platform. The protocol analysis completes the test work of the relevant interface function based on the analysis content, and automatically feeds the result to the upper machine for automatic discrimination processing. In addition, the automatic testing platform also has the IAP upgrade function of the product. It can be completed by only external CAN interfaces, which can greatly increase the flexibility and practicality of the design of the test system.

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备注/Memo

备注/Memo:
收稿日期：2023-05-29
第一作者：
郭晓光（1983—），西安电子科技大学硕士研究生毕业，工程师，研究方向计算机应用。
更新日期/Last Update: 1900-01-01